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產(chǎn)品目錄

產(chǎn)品資料

Agilent 4263B LCR測試儀
產(chǎn)品型號:
簡介:

Agilent 4263B LCR測試儀依靠在任何測試頻率上都有25ms的測量速度來提高一產(chǎn)率,這種能力提高了電解電容順和變壓器測試的效率。

Agilent 4263B LCR測試儀  的詳細(xì)介紹
Agilent 4263B LCR測試儀產(chǎn)品介紹:
  • 基本精度為0.1%
  • 測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
  • 量程為20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
  • 具有測試信號電平監(jiān)視功能
  • 高速測量:25ms
  • 高速接觸檢查
  • 大的電容測試量程
  • 變壓器參數(shù)測量(供選用)

Alilent 4263B LCR測試儀是Agilent公司生產(chǎn)的*價廉物美的低檔LCR測試儀,供生產(chǎn)線上的元件評估和實(shí)驗室中的基本阻抗測試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對測試進(jìn)行模擬的5個測試頻率,即100Hz,120Hz,1kHz和100kHz。在這5個頻率之外還可增添供選用的20kHz測試頻率(選件002)。

高速測量

Agilent 4263B依靠在任何測試頻率上都有25ms的測量速度來提高一產(chǎn)率,這種能力提高了電解電容順和變壓器測試的效率,4263B能檢查測試端子與被測件(DUT)之間的接觸狀況,這種功能保證在生產(chǎn)中用自動處理器進(jìn)行合格。不合格的測試的可靠性,有故障的被測件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作,因此處理器始終能以*高速度工作。

電解電容器測量

Ailent 4263B的精度和寬的測量范圍是對電解電容器進(jìn)行精密測量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電,從而使儀器損壞。4263B的前端設(shè)計考慮了保護(hù)作用,能保持測試正常進(jìn)行。

變壓器參數(shù)測量

由于Ailent 4263B能進(jìn)行匝數(shù)比(N),互感(M)和直流電阻(DCR)測量,故數(shù)據(jù)計算和改變測試裝置不再是費(fèi)時的工作(選件001)靈活的信號電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測量與電平有關(guān)的被測件,始磁芯電感器。

技術(shù)指標(biāo):

測量功能  
測量參數(shù) |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
選件001 增加DCR(直流電阻),N(匝數(shù)比)和M(互感)測量
測量電路形式 串聯(lián)和并聯(lián)
數(shù)學(xué)功能 偏差和百分偏差
測試電纜長度 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)
測試信號數(shù)據(jù)  
測試頻率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
選件002 增加20kHz測試頻率
頻率精度 ±0.01%(頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
輸出阻抗 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程)
交流測試信號電平 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
精度 ±(10%+10mV)
內(nèi)部直流偏置  
電平 1.5和2V;精度:±(5%+2mV)
外部直流偏置 0~+2.5V
測量范圍 參數(shù) 測量范圍
|Z|,R,X 1mΩ-100MΩ
|Y|,G,B 10nS-1000S
C 1pF-1F
L 10nH-100kH
D 0.0001-9.9999
Q 0.1-9999.9
θ -180°~+180°
DCR 1mΩ-100MΩ
N 0.9-200(待定)
L,M 1μH-100H(待定)
Δ% -999.99%-+999.99%
測量精度: ±0.1%(基本精度)(適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL)
測量時間  
模式 時間(典型值)
25ms
中等 65ms
500ms
測試信號電平監(jiān)視器: 電壓和電流
前端保護(hù): 當(dāng)充電電容器連接到輸入端時內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。*大電容器電壓為;在
Vmax≤250V時,Vmax=√(8/C)(典型值);在Vmax≤1000V時,Vmax=√(2/C)(典型值),C單位為F。
顯示數(shù)字: 3,4或5位(可選擇)
修正功能:  
開路/短路誤差為0: 消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差
負(fù)載: 利用一個已校器件作為參考來改善測量的精度
比較功能: 對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)給出高/符合/低(HEGH/IN/LOW)比較結(jié)果
接觸檢查功能: 可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時間為5ms
其它功能  
存儲/調(diào)用: 可以存儲和從內(nèi)部非易失存儲器調(diào)用10個儀器設(shè)置
連續(xù)存儲功能: 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置(直流偏置接通/切斷除外)將自動被存儲起來(在23°±5℃下≦72小時)
GPIB接口 所有控制設(shè)置,被測值和比較器信息
處理器接口 所有輸出信號均為負(fù)邏輯,光隔離的開路集電極。輸出信號包括HIGH/IN/LOW,不接觸,序號,測量結(jié)束和報警。輸入信號包括鍵鎖定和外觸發(fā)

一般技術(shù)指標(biāo):

電源要求 90-132V或198-264V,47-66Hz,45VAmax
工作溫度 0-45℃
尺寸 320mm(寬)*100mm(高)*300mm(長)(12.6英寸*3.94英寸*11.81英寸)
重量: 4.5kg(9.9磅)
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